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80L智能瞬間轉(zhuǎn)換冷熱沖擊試驗(yàn)箱

80L智能瞬間轉(zhuǎn)換冷熱沖擊試驗(yàn)箱

簡(jiǎn)要描述:80L智能瞬間轉(zhuǎn)換冷熱沖擊試驗(yàn)箱
高低溫沖擊試驗(yàn)箱是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域 的測(cè)試設(shè)備,考核和確定電工電子、汽車部件、材料等產(chǎn)品,在進(jìn)行高低溫試驗(yàn)的溫度環(huán)境沖擊變化后的參數(shù)及性能、使用的適應(yīng)性;該設(shè)備廣泛適用于學(xué)校、工廠、研發(fā)等單位.

產(chǎn)品型號(hào): TSD-80F-2P

所屬分類:冷熱沖擊試驗(yàn)箱

更新時(shí)間:2024-06-29

廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

詳情介紹

80L智能瞬間轉(zhuǎn)換冷熱沖擊試驗(yàn)箱

 

產(chǎn)品概述:
  冷熱沖擊試驗(yàn)箱機(jī)(三箱靜止式)用來(lái)測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料,在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,借以在 短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適用的對(duì)象包括金屬,塑料,橡膠,電子等材料,可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。

 

 

 

特點(diǎn):

   采用彩色中英文LCD觸控式圖控操作介面,操作簡(jiǎn)易;

   設(shè)備區(qū)分為高溫區(qū)、低溫區(qū)、測(cè)試區(qū)三部分,各區(qū)之箱體釆*之?dāng)酂峤Y(jié)構(gòu);

   沖擊方式應(yīng)用風(fēng)路切換方式將溫度導(dǎo)入測(cè)試區(qū),做冷熱沖擊測(cè)試;

   高溫沖擊或低溫沖擊時(shí),時(shí)間可達(dá)9999分鐘,循環(huán)周期可達(dá)9999次;

   系統(tǒng)可作自動(dòng)循環(huán)沖擊或手動(dòng)選擇性沖擊并可設(shè)定二區(qū)或三區(qū)沖擊及冷沖熱沖啟始;

   冷卻采二元冷凍系統(tǒng),降溫效果快速,冷卻方式為風(fēng)冷式或水冷式兩種;

控制系統(tǒng)
主控制器采用進(jìn)中國(guó)臺(tái)灣TT-5166,雙回路高精度液晶顯示觸摸按鍵溫度控制器。該控制器采用液晶顯示觸摸屏,可顯示設(shè)定參數(shù)、試驗(yàn)曲線、運(yùn)行時(shí)間、加熱器工作狀態(tài),PID參數(shù)自整定功能。控制程序的編制采用人機(jī)對(duì)話方式,僅需設(shè)定溫度,就可實(shí)現(xiàn)制冷機(jī)自動(dòng)運(yùn)行功能。控制系統(tǒng)具備完善的檢測(cè)裝置能自動(dòng)進(jìn)行詳細(xì)的故障顯示。報(bào)警,配置485通訊接口及運(yùn)行軟件。設(shè)定精度:溫度:0.1℃ 時(shí)間:Is用戶程序容量:10×99段。運(yùn)行方式:程序運(yùn)行,恒定運(yùn)行。獨(dú)立超溫保護(hù)儀表。設(shè)備工作時(shí)間累計(jì)計(jì)時(shí)器。低溫區(qū)、高溫區(qū)轉(zhuǎn)換時(shí)間小于等于15秒。 溫度恢復(fù)時(shí)間小于等于5分鐘。

 

80L智能瞬間轉(zhuǎn)換冷熱沖擊試驗(yàn)箱

 

安全保護(hù)系統(tǒng):
1.系統(tǒng)控制回路保險(xiǎn)絲。
2.系統(tǒng)過電流保護(hù)裝置。
3.附有無(wú)熔絲保護(hù)開關(guān)。
4.超溫保護(hù)裝置。
5.冷凍壓縮機(jī)過負(fù)載保護(hù)裝置。
6.壓縮機(jī)高低壓保護(hù)開關(guān)。
7.欠相保護(hù)開關(guān)。
8.故障指示燈。
9.緊急停止開關(guān)。
10.控制器設(shè)定錯(cuò)誤故障顯示及警示。

 

皓天設(shè)備:冷熱沖擊試驗(yàn)箱/高低溫沖擊試驗(yàn)箱/三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱/二箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱/三箱式高低溫沖擊試驗(yàn)箱/二箱式高低溫沖擊試驗(yàn)箱

 

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):
    GB11158-2008 高溫試驗(yàn)條技術(shù)條件
    GB10589-2008 低濁試驗(yàn)箱技術(shù)條件
    GB10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件(濕度交變)
    GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部份:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫IEC 6008-2-1:2007
    GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部份:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫IEC 6008-2-2:2007
    GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部份:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化IEC 60068-2-14:1984
  



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