快速溫變試驗(yàn)箱電子電工失效驗(yàn)證試驗(yàn)

作用：

適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元?dú)饧诟邷氐蜏乜焖僮兓沫h(huán)境下、檢驗(yàn)其各性能項(xiàng)指標(biāo)。

特點(diǎn)：

采用日本*“優(yōu)易控"品牌溫濕度儀表，7英寸高清真彩液晶觸摸顯示屏，帶給您觸覺和視覺的尊貴與舒適。設(shè)備具有強(qiáng)大的網(wǎng)絡(luò)監(jiān)視、控制網(wǎng)絡(luò)功能，即使您不在機(jī)器旁邊，也可以在電腦上實(shí)時(shí)操作、監(jiān)控，對設(shè)備的運(yùn)行情況了如指掌。

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)

1、GB/T2423.1-2008 低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法

2、GB/T2423.2-2008 高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法

3、GB/T2423.22-2002 溫度變化試驗(yàn)方法

快速溫變試驗(yàn)箱電子電工失效驗(yàn)證試驗(yàn)

性能：

型號：TEB-1000PF   溫度范圍：-20～150℃

工作室尺寸1000*1000*1000mm  (寬×高×深)

溫濕度偏差≤±2℃/±3%RH

溫度范圍：A:0～150、B:-20～150℃、C:-40～150℃、D-60～150℃、E:-70～150℃

濕度范圍：20～98％RH

波動(dòng)/均勻度：±0.5℃/+2℃

升溫時(shí)間3℃/分 5℃/分 10℃/分 15℃/分 20℃/分 25℃/分 30℃/分 非線性及線性均可

降溫時(shí)間3℃/分 5℃/分 10℃/分 15℃/分 20℃/分 25℃/分 30℃/分 非線性及線性均可

制冷工作原理:

溫度快速變化試驗(yàn)箱高低制冷循環(huán)均采用逆卡若循環(huán)，該循環(huán)由兩個(gè)等溫過程和兩個(gè)絕熱過程組成。其過程如下：制冷劑經(jīng)壓縮機(jī)絕熱壓縮到較高的壓力，消耗了功使排氣溫度升高，之后制冷劑經(jīng)冷凝器等溫地和四周介質(zhì)進(jìn)行熱交換，將熱量傳給四周介質(zhì)。后制冷劑經(jīng)閥絕熱膨脹做功，這時(shí)制冷劑溫度降低。zui后制冷劑通過蒸發(fā)器等溫地從溫度較高的物體吸熱，使被冷卻物體溫度降低。此循環(huán)周而復(fù)始從而達(dá)到降溫之目的

使用條件:

1、安裝場地

地面平整，通風(fēng)良好

設(shè)備周圍無強(qiáng)烈振動(dòng)

設(shè)備周圍無強(qiáng)電磁場影響

設(shè)備周圍無易燃、易爆、腐蝕性物質(zhì)和粉塵

設(shè)備周圍留有適當(dāng)?shù)氖褂眉熬S護(hù)空間，

2、供電條件

電源要求：AC380V±10%  50±0.5Hz 三相五線制

要求用戶在安裝現(xiàn)場為設(shè)備配置相應(yīng)容量的空氣或動(dòng)力開關(guān)，并且此開關(guān)必須是獨(dú)立供本設(shè)備使用

3、環(huán)境條件

環(huán)境溫度：5℃～＋30℃（24小時(shí)內(nèi)平均溫度≤30℃）

環(huán)境濕度：≤85%RH

4、其它注意事項(xiàng)

試驗(yàn)過程中打開試驗(yàn)箱的門，會(huì)造成箱內(nèi)的溫、濕度波動(dòng)；在試驗(yàn)過程中如果多次打開門或長時(shí)間敞開門或試驗(yàn)樣品散發(fā)濕汽，可能會(huì)造成制冷系統(tǒng)換熱器結(jié)冰而無法正常工作

標(biāo)準(zhǔn)配置觀視窗（45*30cm）,測試孔（￠50*1只），試料架（2組） 超溫保護(hù)器，視窗燈，時(shí)間信號接口（2組）